參考信息

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紅外光譜儀 Dimension IconIR

產(chǎn)品介紹

布魯克公司的大樣本Dimension IconIR系統(tǒng)在一個平臺上結(jié)合了納米級紅外光譜和掃描探針顯微鏡（SPM），為學(xué)術(shù)研究人員和工業(yè)用戶提供了*先進的光譜,、成像和屬性測繪能力,。IconIR融合了幾十年的研究和技術(shù)創(chuàng)新，在Dimension Icon?的行業(yè)*佳AFM測量能力的基礎(chǔ)上,，提供了無*倫*的性能,。該系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)相關(guān)的顯微鏡和化學(xué)成像,，具有更高的分辨率和單層靈敏度，而其獨特的大樣本結(jié)構(gòu)為*廣泛的應(yīng)用提供了終*的樣本靈活性,。

大樣本

*高性能的納米紅外光譜學(xué)

為各種樣品類型和應(yīng)用提供更多的靈活性和性能,。

相互關(guān)聯(lián)的

化學(xué)和納米級屬性圖譜

提供定量的納米化學(xué)、納米力學(xué)和納米電學(xué)數(shù)據(jù),。

亞10納米

光熱AFM-IR成像

實現(xiàn)了*高分辨率的表征,，具有單層敏感性。

在單一系統(tǒng)中,，IconIR為納米級紅外光譜,、化學(xué)成像分辨率和單層靈敏度提供*高性能。

只有Dimension IconIR能提供,。

具有準(zhǔn)確和可重復(fù)的FT-IR相關(guān)的高性能納米紅外光譜,，<10納米的化學(xué)分辨率，以及單層靈敏度

采用PeakForce Tapping?納米力學(xué)和納米電學(xué)模式進行相關(guān)的化學(xué)成像

*高性能的AFM成像和無可比擬的樣品靈活性,，具有大樣品適應(yīng)性*,。

*廣泛的協(xié)調(diào)應(yīng)用附件和AFM模式的可用范圍

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